隐晶质的检测

检测项目

1.结晶度测定：采用半定量法计算非晶相占比（0-100%），误差≤2%

2.晶粒尺寸分析：测量隐晶质团聚体粒径（10-500nm），分辨率达1nm

3.相组成鉴定：识别α相/β相比例（0.1-99.9wt%），检出限0.05%

4.晶格畸变率：计算d间距偏移量（0.005），重复性RSD＜1.5%

5.热稳定性测试：测定玻璃转变温度Tg（200-1500℃），升温速率0.1-20℃/min

检测范围

1.先进陶瓷材料：氧化锆/碳化硅结构陶瓷（牙科植入体、切削刀具）

2.非晶合金材料：Zr基/Pd基块体金属玻璃（精密模具、运动器材）

3.火山玻璃制品：黑曜岩/珍珠岩制品（建筑材料、过滤介质）

4.胶凝材料体系：地质聚合物/碱激发胶材（固废利用、特种建材）

5.纳米晶体材料：机械合金化粉末（磁性材料、催化剂载体）

检测方法

1.X射线衍射法：ASTME975-20《残余应力测定》、GB/T23413-2009《纳米材料晶体尺寸测定》

2.电子背散射衍射：ISO24173:2023《微区取向分析通则》、GB/T35099-2018《扫描电镜电子背散射衍射分析方法》

3.拉曼光谱法：ISO20310:2018《碳材料结构表征》、GB/T36065-2018《纳米材料拉曼光谱表征》

4.差示扫描量热法：ASTME794-06(2018)《熔融和结晶温度测定》、GB/T19466.3-2004《塑料差示扫描量热法》

5.透射电子显微术：ISO21363:2020《纳米颗粒尺寸分布测定》、GB/T27788-2020《微束分析扫描电镜图像放大倍率校准》

检测设备

1.RigakuSmartLabX射线衍射仪：配备HyPix-3000探测器，可执行θ-θ扫描（5-140）

2.JEOLJSM-IT800扫描电镜：配置CL探测器，实现10nm分辨率下的阴极发光成像

3.NetzschSTA449F5同步热分析仪：同步TG-DSC测量（RT-1600℃），气体流量控制精度0.1mL/min

4.BrukerD8ADVANCEXRD系统：配备LYNXEYEXE-T探测器，支持微区衍射（50μm光斑）

5.MalvernZetasizerNanoZSP粒度仪：动态光散射法测量1nm-10μm颗粒体系

6.FEITalosF200X透射电镜：STEM模式分辨率0.16nm，配备SuperX能谱系统

7.HoribaLabRAMHREvolution拉曼光谱仪：532/633/785nm多波长激发，空间分辨率＜1μm

8.ShimadzuXRD-7000衍射仪：配备高温附件（RT-1500℃），控温精度0.5℃

9.ZeissSigma500场发射电镜：Inlens探测器实现1kV低电压成像（分辨率1.4nm）

10.TAInstrumentsQ2000DSC：温度精度0.1℃，支持调制DSC技术（振幅0.5℃）